Оборудование для механической обработки пластин

Отправляя данные формы, я автоматически принимаю условия Политики конфиденциальности, в том числе в части обработки и использования моих персональных данных.

Установки дисковой резки пластин

Установки дисковой резки пластин

Автоматические системы дисковой резки пластин применяться как при мелкосерийном, так и в средне и крупносерийном производстве. Установки применяются для всех типов материалов: пластины Si, Ge и GaAs, текстолиты типа FR3/FR4, керамика и корпуса QFN, стекло, светодиоды, пластины InP, пьезокерамика, сапфир, кварц и т.д.

Характеристики
Размер пластин До 12 дюймов
Скорость вращения инструмента До 50000об/мин
Разрешение по Y,Z 0,1 мкм
Разрешение по X 1 мкм
Управление 15-дюймовый сенсорный экран

Установки шлифовки пластин

Установки шлифовки пластин

Установки шлифовки пластин обеспечивают обработку полупроводниковых пластин и подложек диаметром 3/4/6/8”.

Системы шлифовки пластин обеспечивают обработку полупроводниковых пластин и подложек на основе таких материалов как Si, Ge, SiC, GaAs, GaN, AlN, InP, сапфир, керамика, стекло и т.д. Загрузка подложек осуществляется оператором вручную, а процесс утонения автоматически согласно заданному рецепту.

Характеристики
Размер пластин 3–8”
Толщина пластин 50–24000 мкм
Разрешение 0,1 мкм
Разнотолщинность ≤2 мкм
Шероховатость Ra≤0,02 мкм

Установки Химико-механической полировки

Установки Химико-механической полировки

Установки химической полировки предназначены для операций химической полировки в агрессивных средах таких как бром-метанол или кислотные травители для обработки поверхности. Предназначены для полировки полупроводниковых пластин или электронных и оптоэлектронных кристаллов.

Характеристики
Размер подложек 3–8”
Размер платы 355–508 мм
Скорость вращения 0–120 об/мин
Время работы 0–10 ч

Установки отмывки пластин после дисковой резки

Установки отмывки пластин после дисковой резки

Системы предназначены для отмывки заготовок из пластин после дисковой резки. Отмывка производится программно в соответствии с размером заготовки и требованиями к чистоте. Системы имеет сенсорный экран для настройки параметров отмывки и функцию создания и хранения рецептов.

Характеристики
Максимальный размер пластин 12”
Метод отмывки вода + сжатый воздух/азот
Скорость вращения до 3000
Загрузка/выгрузка заготовок ручная

Установки нанесения пленки

Установки нанесения пленки

Ручные и полуавтоматические установки нанесения пленки предназначены для нанесения различных пленок, в процессах обработки полупроводниковых пластин в микроэлектроники. В установку входит, нагревательный стол, система подачи пленки, устройство для перпендикулярной и кольцевой обрезки пленки после нанесения ее на пластину и система вакуумной фиксации.

Характеристики
Материал поверхности стола тефлон
Температура нагрева До 100 °С
Размер стола под пластины 4”, 5”, 6’’, 8’’

Установки растяжки пленки

Установки растяжки пленки

Установки растяжки предназначены для растяжки пленки с порезанными изделиями и облегчения снятия изделий после завершения процесса резки для последующего монтажа или сортировки. Равномерность растяжение пленки-носителя пластины осуществляется за счет регулируемой скорости и высоты подъёма. Системы имеют функцию подогрева.

Характеристики
Размер рамок/пяльцев 200/300 мм
Систем подогрева есть
Система поддува есть
Регулировка параметров есть

Установки ультрафиолетовой засветки

Установки ультрафиолетовой засветки

Установки ультрафиолетовой засветки предназначены для равномерной засветки изделия после резки для достижения снижения адгезии между пленкой и кристаллами. Установки реализованы с ручной и полуавтоматической загрузкой. Функция быстрой настройки процесса и регулировки времени засветки.

Характеристики
Размер рабочий области 6–12”
Размер пластин 3–12”
Источник LED, 365 нм

Оборудование для механической обработки пластин и подложек используется в процессах производства полупроводников в микроэлектронике. Это процессы дисковой резки пластин и подложек, шлифовки, полировки и других видов механической обработки пластин из полупроводниковых материалов, используемых в микроэлектронике. Процессы являются важными стадиями приготовления пластин перед осуществлением фотолитографии и других процессов изготовления микроэлектронных компонентов.

Основное оборудование и его функции

Оборудование для резки

  • Дисковые резки (пластин): используются для прецизионной резки пластин на отдельные кристаллы закрепленных на пленке-носителе.
  • Лазерные резаки: могут использоваться для точной и быстрой резки пластин с минимальным тепловым воздействием.

Оборудование для шлифовки и полировки

  • Шлифовальные машины: предназначены для утонения пластины до заданной толщины , перемещают абразивный инструмент по поверхности пластины для удаления материала и формирования гладкой поверхности.
  • Полировальные машины: используют мягкие абразивы и полировальные пасты для достижения высокой степени гладкости и зеркальной поверхности, что необходимо для последующих процессов фотолитографии.
  • Установки химической полировки: предназначены для операций химической полировки используя химические реактивы для удаления материала и создания максимально гладкой поверхности.

Оборудование для измерения и контроля

  • Профилометры: измеряют топографию поверхности пластин, чтобы контролировать качество шлифовки и полировки.
  • Интерферометры: используются для высокоточного измерения толщины и плоскостности пластин.

Оборудование для чистки

  • Установки для мойки пластин: удаляют загрязнения, пыль и остатки химикатов после механической обработки и перед дальнейшими процессами.
  • Системы ультразвуковой очистки: применяют ультразвуковые волны для удаления мелких частиц загрязнений с поверхности пластин.

Значение в производстве

Качественная механическая обработка пластин является основополагающей для успешного производства полупроводниковых устройств. Точность и качество обработки напрямую влияют на производительность и надежность конечного продукта. Улучшенные методы обработки позволяют достигать более высоких технологических стандартов и способствуют миниатюризации устройств.